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Simulating Interface Growth and Defect Generation in CZT – Simulation State of the Art and Known Gaps

机译：模拟CZT中的界面生长和缺陷生成 - 模拟现状和已知间隙

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作者
Henager, Charles H.; Gao, Fei; Hu, Shenyang Y.; Lin, Guang; Bylaska, Eric J.; Zabaras, Nicholas;
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年度 2012
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